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SMR170 磁共振性能檢測(cè)模體——技術(shù)規(guī)格書(shū) |
| 點(diǎn)擊次數(shù)：685 發(fā)布時(shí)間：2024/8/3 |
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東莞市高升電子精密科技有限公司 |
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SMR170 磁共振性能檢測(cè)模體主要用于核磁共振研發(fā)測(cè)試，性能質(zhì)量評(píng)估，空間分辨力及成像線性度測(cè)試和低對(duì)比度靈敏度測(cè)試。測(cè)磁場(chǎng)均勻性、信躁比、T1,T2值、空間分辨率(高分辨率)、密度分辨率(低對(duì)比度)、幾何線性等。SMR170 磁共振性能檢測(cè)模體能夠符合YY/T0482-2022、JJF(京)30-2022等標(biāo)準(zhǔn)相關(guān)要求，進(jìn)行對(duì)MRI設(shè)備性能進(jìn)行檢測(cè)。模體由一個(gè)10cm的立方體測(cè)試插件和丙烯酸材料的圓柱體組成；圓柱體的外徑為20 厘米，內(nèi)徑為 19 厘米。如圖A.1所示。 |
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